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Analizzatore parametrico Keithley 4200A SCSTektronix ha presentato due nuovo moduli di alimentazione e misura (SMU) per il suo analizzatore parametrico Keithley 4200A-SCS che permettono di misurare correnti di bassissima intensità anche in presenza di capacità relativamente elevate, tipicamente dovute a cavi lunghi o configurazioni del banco di misura particolarmente complesse.

Alcuni esempi applicativi tipici che coinvolgono la misura di correnti molto deboli con collegamenti di capacità elevata son il collaudo dei display LCD o il test di dispositivi FET su un piatto di supporto per wafer (chuck).

Caratterizzazione MOSFETI nuovo moduli 4201-SMU e 4211-SMU di Keithley sono stati progettati per facilitare l'esecuzione delle misura in presenza di lunghi cavi di collegamento, matrici di commutazione e altre attrezzature complesse che si rendono necessarie in molti prove di qualificazione dei semiconduttori.

In tali configurazioni di prova, dove è necessario misurare correnti molto basse, la capacità vista dall'uscita della SMU può essere relativamente elevata, anche se quella intrinseca del dispositivo in prova è invece bassa. In tal caso, se la capacità dei collegamenti è troppo elevata, si corre il rischio che le misure di correnti molti deboli risultino instabili.

Per evitare questo rischio, i nuovi moduli possono erogare tensione e misurare corrente anche in presenza di cavi più lunghi o capacità più elevate rispetto a quanto generalmente possibile con altri tipi di SMU.

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Nella portata di misura più bassa delle correnti, i moduli 4201-SMU e 4211-SMU possono gestire carichi capacitivi 1000 volte superiori a quanto possibile precedentemente.

Ad esempio, quando la gamma di correnti è compresa tra 1 e 100 pA, i nuovi moduli Keithley rimangono stabili anche in presenza di carichi con capacità fino a 1 µF.

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