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Misure EMI con analizzatori di spettro e segnali Rohde & SchwarzRohde & Schwarz ha presentato un pacchetto applicativo dedicato alle misura delle interferenze elettromagnetiche (EMI) per gli analizzatori di spettro in tempo reale della serie FSVR e gli analizzatori di spettro e segnale della serie FSV.

La nuova opzione R&S FSV-K54 permette di sfruttare gli analizzatori come strumenti diagnostici per la compatibilità elettromagnetica durante lo sviluppo del progetto prima di affrontare le prove di laboratorio per ottenere la certificazione di conformità necessaria per la commercializzazione delle apparecchiature elettriche ed elettroniche.

Per ottenere il marchio CE e tutte le altre approvazioni necessarie, è indispensabile agire sin dalla prime fasi del progetto per adottare tutte le contromisure necessarie a prevenire fenomeni di interferenza elettromagnetica.

L'opzione R&S FSV-K54 abbinata a uno degli analizzatori di spettro e segnale proposti da Rohde & Schwarz consente di eseguire sin sui prototipi le analisi sulle emissioni elettromagnetiche sfruttando automatismi e funzionalità che facilitano l'esecuzione di queste misure di tipo specialistico.

Per esempio, la modalità di visualizzazione a spettrogramma, che evidenzia le variazione di ampiezza e frequenza del segnale in funzione del tempo, aiuta molto a identificare fenomeni spuri o intermtteenti che potrebbero generare interferenze dannose al proprio prodotto oppure a quelli posti nella vicinanze. Con tale modalità è possibile analizzare blocchi di spettro di 40 MHz su una gamma di frequenza che può raggiungere i 40 GHz .

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L'opzione di misura R&S FSV-K54 contiene i rilvelatori definiti dalla norme specifiche sulle emissioni EMI (CISPR), come il rilevatore di quasi picco, a valor medio e a valore efficace, nonchè le maschere limite delle emissioni e la visualizzazione su assi di frequenza logaritmici che risultano decisamente comodi per questo tipo di misura.

Inoltre, la possibilità di correlare i vari marker con il tipo di rivelatore utilizzato permette di eseguire rapidamente le misure su ampie porzioni di spettro senza rinunciare alla possibilità di approfondirle nelle zone critiche.

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