FocusonPCB - Vicenza, 13-14 maggio 2026
"Focus on PCB – From Design to Assembly” torna a Vicenza il 13 e 14 maggio 2026 confermandosi come l’evento di riferimento in Europa per l’industria dei circuiti stampati e per…
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- Scritto da Georg Sterzl*
- Categoria: Misure Analogiche
Questo articolo descrive l'utilizzo di un substrato di calibrazione Through [anche denominato Thru] Reflect Line (TRL) on-wafer per applicazioni ad ampia larghezza di banda.
L'analizzatore di reti vettoriale (VNA) VectorStar ME7838G di Anritsu, con la sua tecnologia Shockline, è il punto di riferimento nelle applicazioni a banda larga e viene utilizzato come esempio. Inoltre, vengono presentati i confini del substrato di calibrazione TRL multilinea standard (calsubstrate) insieme a scenari che non possono essere risolti attraverso l'uso di TRL.
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Leggi tutto: Utilizzo di substrati di calibrazione on-wafer a banda larga da 70 kHz a 220 GHz
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- Scritto da Francesco Lucarno
- Categoria: Misure Analogiche
Da tempo gli oscilloscopi hanno integrato notevoli capacità di analisi spettrale grazie ad algoritmi rapidi di calcolo della trasformata di Fourier (FFT, Fast Fourier Transform) che permettono di calcolare in tempi brevissimi lo spettro del segnale acquisito, sempre più spesso anche in tempo reale.
Gli algoritmi di calcolo ed elaborazione del segnale (DSP) ormai sono comunemente implementati negli oscilloscopi digitali più moderni su FPGA o processori DSP dedicati, che uniti ai convertitori analogico/digitali (ADC) ad elevata risoluzione (10, 12 bit) offrono caratteristiche di dinamica e accuratezza notevoli.
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- Scritto da Misbah Dhuca
- Categoria: Misure Analogiche
Quando pensiamo all'accuratezza delle misurazioni, tendiamo a consultare le schede tecniche degli oscilloscopi per controllare specifiche come la velocità di campionamento, la larghezza di banda e la risoluzione del convertitore analogico/digitale (ADC).
Tuttavia, se vogliamo davvero assicurarci che il segnale sullo schermo dell'oscilloscopio sia accurato, dobbiamo andare oltre l'oscilloscopio, più vicino al dispositivo in prova o DUT. Un fattore critico ma spesso trascurato per ottenere misurazioni accurate è, infatti, rappresentato dalla qualità della sonda utilizzata per collegare l'oscilloscopio al DUT.
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- Scritto da Francesco Lucarno
- Categoria: Misure Analogiche
Gli oscilloscopi sono sul mercato da molto tempo e i lettori meno giovani ricorderanno con una buona dose di nostalgia i bei tempi andati dei gloriosi “cassoni” analogici degli anni ’60 e ’70.
Molti strumenti analogici sono sopravvissuti e sono tuttora utilizzabili, soprattutto se non si ha bisogno di grandi larghezze di banda (e se si ha la possibilità di calibrarli adeguatamente al bisogno). Molti tecnici e ingegneri si sono fatti le ossa con quei colossi e si ha anche la possibilità di imparare ancora molto se si osa dare un’occhiata al loro interno.
Vediamo come si sono evolute nel tempo le principali caratteristiche degli oscilloscopi, ormai diventati tutti strumenti digitali, in particolare larghezza di banda e risoluzione.
Leggi tutto: Evoluzione degli oscilloscopi: larghezza di banda e risoluzione
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- Scritto da Thomas Rottach*
- Categoria: Misure Analogiche
I nuovi oscilloscopi ad alta risoluzione sono sempre più diffusi e accessibili. Consentono di affrontare una crescente varietà di applicazioni e aiutano a migliorare il debugging, l'analisi e la visualizzazione di piccoli dettagli del segnale.
Per progettare un oscilloscopio di qualità per applicazioni che richiedono un'elevata fedeltà del segnale non basta migliorare la risoluzione da 8 a 12 bit. È altrettanto necessario prestare attenzione all'intero processo di progettazione, dalla sonda al display.
Leggi tutto: Affrontare le sfide della fedeltà del segnale con gli oscilloscopi ad alta risoluzione
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