Keysight Technologies ha annunciato di una tecnologia rivoluzionaria utile per realizzare gli oscilloscopi con la più elevata larghezza di banda al mondo.
Nei suoi laboratori sono stati infatti accessi con successo per la prima volta dei chipset di nuova generazione basati sull'avanzata tecnologia di processo dei semiconduttori in fosfuro di indio (InP) .
Keysight dichiara che i nuovi circuiti integrati le daranno la possibilità di offrire nel corso del 2017 degli oscilloscopi funzionanti in modalità in tempo reale e in tempo equivalente con larghezze di banda superiori a 100 GHz e con un livello di rumore di fondo significativamente migliore di quello garantito dagli strumenti attualmente sul mercato.
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Un utilizzo intelligente del trigger e della funzione FFT di un moderno oscilloscopio permette di identificare le possibili sorgenti di rumore che influenzano negativamente l'integrità della linea di alimentazione in corrente continua di un sistema elettronico.
L’impiego delle funzioni di analisi FFT per visualizzare i segnali nel dominio della frequenza può essere molto utile per identificare le sorgenti che contribuiscono al rumore dell’alimentazione.
A differenza degli oscilloscopi classici che convertono i segnali analogici in digitali con una risoluzione di 8 bit, i moderni strumenti HD riescono a fornire riproduzione della forma d’onda più dettagliate utilizzando una risoluzione superiore, anche fino a 16 bit.
La maggiore risoluzione è una caratteristica che si rivela particolarmente utile ad esempio nelle misure sui sistemi di potenza, dove i segnali possono avere livelli di decine di volt, ma a cui sono sovrapposte piccole variazioni o ondulazioni di ampiezza molto inferiore.
A Milano è stata inventata e brevettata una tecnica non invasiva che consente di osservare la presenza e di misurare l’intensità della radiazione luminosa in un mezzo ottico, senza perturbare in alcun modo le proprietà del campo ottico
propagante.
Si tratta di una tecnica che ha numerose applicazioni scientifiche ed industriali: dalla gestione e controllo di circuiti fotonici complessi a larga scala di integrazione alla rivelazione multipunto di guasti, dall'allineamento automatico tra una singola fibra ottica ed una guida integrata al test a livello di fetta nel collaudo di dispositivi a semiconduttore.
Utilizzando il metodo corretto, con un analizzatore vettoriale di reti è possibile misurare accuratamente il ritardo elettrico senza ambiguità .
Prima di vedere come si fa, ricordiamo che il ritardo elettrico di un dispositivo può essere semplicemente definito come il tempo che impiega un segnale elettrico per attraversarlo.
Viene espresso in unità di misura di tempo e dipende dalla frequenza del segnale e da altri fattori.
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