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- Scritto da Marco Caratti
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Advantest presentato la sua nuova soluzione di test T2000 IMS dedicata al collaudo ad elevato parallelismo di microcontrollori dotatI di circuiti analogici e di memoria flash integrati, tra cui quelli dedicati al mercato delle smart card.
Progettata per effettuare il collaudo su vasta scala di un massimo di 256 dispositivi contemporaneamente, la nuova soluzione integrata di test ad elevato parallelismo di Advantest è caratterizzata da un'architettura universale per pin del tester che gestisce internamente 208 canali con risorse di misura diversificate per garantire la massima flessibilità.
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- Scritto da Super User 768
- Categoria: ATE
Agilent Technologies ha pubblicato la nuova versione del software di collegamento IO Suite dedicato al collegamento degli strumenti di misura e collaudo, in particolare la strumentazione modulare.
Tra le novità fondamentali della nuova versione vi è il pieno supporto di Microsoft Windows 8 e indows Server 2012, nonché un miglioramento dei collegamenti tramite interfaccia USB.
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
Il digitalizzatore veloce a 8 canali in formato AXIe presentato da Agilent Technologies con conversione di frequenza digitale è uno strumento che si presta ad eseguire le più sofisticate misura su segnali apparati di ricetrasmissione con antenne multiple (phased array), come radar, radiogoniometri e sistemi di trasmissione satellitari che sfruttano ricevitori coerenti.
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
La ben nota serie di unità di alimentazione e misura (SMU, Source Measurement Unit) SourceMeter proposte da Keithley è stata ampliata con tre nuovi modelli da banco più economici.
I nuovi modelli SourceMeter 2604B, 2614B e 2634B sono ottimizzati per i laboratori che necessitano di uno strumento da banco, per lo sviluppo di prodotti e per i laboratori scolastici e per altre applicazioni dove il funzionamento integrato e l’elevata accuratezza sono parametri importanti ma non richiedono un’automazione spinta per il collaudo a livello di sistema.
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
JTAG Technologies ha ampliato la sua gamma di controllori per sistemi di collaudo boundary-scan a standard IEEE 1149.1 con il nuovo modello DataBlaster JT 37x7/PXIe adatto ad essere inserito in un sistema di collauto automatico basato sul bus standard PCI o PCI Express.
Il nuovo controllore DataBlaster JT 37x7/PXIe può effettuare test continuativamente con frequenze di clock fino a 40 MHz sfruttando le tecnologia proprietaria ETT (Enhanced Throughput Technology) JTAG Technologies e il buffer di memoria flsh interno.
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