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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 06 Giugno 2012

La nuova generazione di sistemi di ispezione ottica automatica (AOI) di schede a circuito stampato iSpector di Mek Europe (ex Marantz Business Electronics) è caratterizzata da un un formato molto compatto che ne agevola l'utilizzo sia in configurazioni da laboratorio con caricamento manuale che in linea di produzione abbinati a sistemi di caricmento automatici.

Leggi tutto: Sistema compatto per l'ispezione ottica di circuiti stampati

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 30 Maggio 2012

Advantest Corporation ha presentato il sistema di collaudo per memorie DRAM ad alta velocità di nuova generazione T5511 che permette di eseguire test con una velocità fino a 8 Gbps.

Il nuovo sistema di collaudo automatico della multinazionale giapponese è adatto anche al collaudo dei più veloci dispositivi GDDR5-SDRAM con un'architettura che supporta la velocità massima di collaudo su tutti i pin contemporaneamente.

Leggi tutto: Collaudo memorie DRAM fino a 8 Gbps

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 02 Maggio 2012

Agilent Technologies ha realizzato un analizzatore vettoriale basato su schede PXI dedicato ai segnali trasmessi con tecniche parallele MIMO con la più elevata larghezza di banda di modulazione.

Ad esempio, il nuovo analizzatore modulare Agilent consente di verificare la correttezza e validare i progetti di chip e sistemi sviluppati per le trasmissione wireless a standard 802.11ac.

Leggi tutto: Analisi vettoriale di segnali MIMO con schede PXI

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 06 Aprile 2012

Con la nuova versione 5.4 del software per l’ambiente di collaudo parametrico per semiconduttori S530, di Keithley Instruments sono state introdotte anche nuove funzionalità di misura.

I sistemi di collaudo Keitley S530 possono ora essere configurati per collegare sonde Kelvin sfruttando 48 pin e dispongono di nuove opzioni integrate per la generazione di impulsi, misure di frequenza e misure a bassa tensione.

Leggi tutto: Nuove funzioni di test per Keithley S530

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 30 Marzo 2012

Keithley Instruments ha ampliato la sua famiglia di unità di alimentazione e misura per collaudi parametrici SourceMeter con il modello 2657A dedicato alle prove di dispositivi di potenza ad alta tensione.

Il generatore da 180 W integrato nello strumento SourceMeter 2657A può erogare tensioni di prova fino a 3.000V, mentre il multimetro di misura da 6 ½ cifre può rilevare correnti anche di soli 1 fA.

Leggi tutto: Unità di alimentazione e misura ad alta tensione