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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 29 Luglio 2014

Advantest ha presentato il nuovo alimentatore flottante PVI8 che amplia le funzionalità della sua piattaforma di collaudo automatico per circuiti integrati V93000, che semplifica l'esecuzione di test ad alta tensione e ad alta corrente di dispositivi di potenza.

La nuova opzione permette di disporre nel tester V93000 di tutta la potenza necessaria e di un adeguato numero di canali analogici e digitali necessari per affrontare il collaudo ad elevato parallelismo di circuiti integrati di potenza a costi contenuti.

Leggi tutto: Alimentatore flottante per collaudo IC di potenza

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 30 Giugno 2014

Advantest ha presentato un nuovo modulo digitale e un nuovo modulo di alimentazione per potenziare la sua piattaforma T2000 dedicata al collaudo automatico di circuiti integrati system-on-chip (SoC).

Il modulo digitale T2000 1.6GDM da 1,6 Gbit al secondo dispone di una nuova funzione chiamata Functional Test Abstraction Plus (FTA+), che consente di effettuare collaudo tenendo presente le caratteristiche dei protocolli specifici utilizzati dal circuito integrato da collaudare.

Leggi tutto: Modulo alimentatore e modulo digitale per Advantest T2000

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 09 Giugno 2014

Advantest ha presentato il suo nuovo sistema di misura e collaudo per circuiti integrati EVA100, una piattaforma che combina le funzionalità di collaudo digitale e analogico per verificate il corretto funzionamento di semiconduttori analogici, mixed-signal e sensori con un numero ridotto di pin.

L’architettura espandibile del tester EVA100 offre la flessibilità necessaria per effettuare una vasta gamma di funzioni di misura. L'interfaccia utente è molto intuitiva e non richiede capacità di programmazione avanzate da parte degli utenti, facilitando l'immissione sul mercato dei nuovi modelli di circuiti integrati e abbassando il costo complessivo delle attività di collaudo.

Leggi tutto: Tester per circuiti integrati analogici, mixed signal e sensori

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 18 Dicembre 2013

Advantest ha presentato un nuovo modulo a 64 canali per la piattaforma di test T2000 dedicata al collaudo di semiconduttori che facilita l'esecuzione di test parametrici di circuiti integrati a elevato numero di pin utilizzati nelle applicazioni di gestione dell’alimentazione e nel settore automobilistico.

Leggi tutto: Modulo ad elevato parallelismo per test IC di potenza

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Scritto da Sandro Casati

Categoria: ATE

Pubblicato: 04 Dicembre 2013

National Instruments ha annunciato che la più recente versione del suo ambiente software per la creazione di applicazioni di collaudo real-time, NI VeriStand 2013, integra anche le funzionalità del software NI DIAdem, il pacchetto dedicato alla gestione e acquisizione dati che facilita la post-elaborazione automatizzata e la generazione di report.

Tramite VeriStand 2013, è ora possibile configurare gli script di automazione e i modelli di report in DIAdem, registrare dati, eseguire la post-elaborazione e generare report con un unico click, garantendo un processo di test di alta qualità.

Leggi tutto: VeriStand 2013 integra DIAdem