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Verigy V6000, tester per memorieDestinata ai produttori di semiconduttori, la famiglia di sistemi automatici di collaudo V6000 di Verigy permette di collaudare sia i componenti di memoria Flash, sia le memorie DRAM.

Tra i primi utilizzatori degli ATE serie V6000 vi è Numonyx, società nata da una costola di STM.

Measurement Studio 8.6National Instruments ha annunciato la nuova versione 8.6 di Measurement Studio, che fornisce librerie di acquisizione dati e controllo strumenti e nuove tecnologie per le ultime release di .NET e C++ per l'ambiente di sviluppo Visual Studio 2008 di Microsoft.

Measurement Studio 8.6 dispone di un set completo di librerie di classi .NET e C++, tool e driver per acquisizione dati e controllo strumenti per Microsoft Visual Studio 2008, Microsoft Foundation Class Library (MFC) 9.0 e il Framework .NET 3.5.

Caratterizzazione componenti con ACS Basic EditionKeithley Instruments ha presentato la versione base del suo software per la redazione delle curve caratteristiche dei componenti elettronici ACS (Automated Characterization Suite) Basic Edition.

Si tratta di un programma da abbinare alla gamma di strumenti di generazione e misura della serie SourceMeter che permette di sostituire i tradizionali tool per il tracciamento di curve con una soluzione in grado di effettuare sia la tracciatura delle curve base sia il test parametrico, a fronte di costi decisamente competitivi.

Analizzatore di semiconduttori Keithley InstrumentsKeithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).

Sistema caratterizzazione wafer KeithleyKeithley Instruments ha annunciato di aver apportato significative migliorie al software ACS (Automated Characterization Suite) che ora include come opzione i tool per il collaudo WLR (Wafer Level Reliability) utili per prevedere la durata e l’affidabilità dei dispositivi a semiconduttore. La nuova versione 4.0, realizzata sfruttando le funzionalità esistenti per il test parallelo single o multi-site, integra ora risorse di database così come tool software e licenze opzionali per le nuove funzionalità di analisi dei dati e il modulo RTM (Reliability Test Module).

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