FocusonPCB - Vicenza, 13-14 maggio 2026
"Focus on PCB – From Design to Assembly” torna a Vicenza il 13 e 14 maggio 2026 confermandosi come l’evento di riferimento in Europa per l’industria dei circuiti stampati e per…
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- Scritto da Stefano Cazzani
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Destinata ai produttori di semiconduttori, la famiglia di sistemi automatici di collaudo V6000 di Verigy permette di collaudare sia i componenti di memoria Flash, sia le memorie DRAM.
Tra i primi utilizzatori degli ATE serie V6000 vi è Numonyx, società nata da una costola di STM.
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Leggi tutto: Verigy V6000 per il test di memorie flash e DRAM
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
National Instruments ha annunciato la nuova versione 8.6 di Measurement Studio, che fornisce librerie di acquisizione dati e controllo strumenti e nuove tecnologie per le ultime release di .NET e C++ per l'ambiente di sviluppo Visual Studio 2008 di Microsoft.
Measurement Studio 8.6 dispone di un set completo di librerie di classi .NET e C++, tool e driver per acquisizione dati e controllo strumenti per Microsoft Visual Studio 2008, Microsoft Foundation Class Library (MFC) 9.0 e il Framework .NET 3.5.
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- Scritto da Marco Caratti
- Categoria: ATE
Keithley Instruments ha presentato la versione base del suo software per la redazione delle curve caratteristiche dei componenti elettronici ACS (Automated Characterization Suite) Basic Edition.
Si tratta di un programma da abbinare alla gamma di strumenti di generazione e misura della serie SourceMeter che permette di sostituire i tradizionali tool per il tracciamento di curve con una soluzione in grado di effettuare sia la tracciatura delle curve base sia il test parametrico, a fronte di costi decisamente competitivi.
Leggi tutto: Caratterizzazione di componenti con ACS Basic Edition
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- Scritto da Marco Caratti
- Categoria: ATE
Keithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
Keithley Instruments ha annunciato di aver apportato significative migliorie al software ACS (Automated Characterization Suite) che ora include come opzione i tool per il collaudo WLR (Wafer Level Reliability) utili per prevedere la durata e l’affidabilità dei dispositivi a semiconduttore. La nuova versione 4.0, realizzata sfruttando le funzionalità esistenti per il test parallelo single o multi-site, integra ora risorse di database così come tool software e licenze opzionali per le nuove funzionalità di analisi dei dati e il modulo RTM (Reliability Test Module).
Leggi tutto: Sistema per il collaudo di affidabilità dei wafer
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