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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 19 Novembre 2013

Il nuovo sistema di collaudo per dispositivi wireless IQxel-M realizzato da LitePoint consente di provare fino a quattro dispositivi contemporaneamente oppure di stimolare lo stesso dispositivo con segnali mmultipliper verificare il corretto comportamento delle diverse radio integrate.

Si tratta di uno strumento che nasce per soddisfare le esigenze del collaudo in produzione, in particolare per velocizzare i test dei moderni terminali multistandard.

Leggi tutto: Tester dispositivi wireless in parallelo

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 09 Ottobre 2013

La nuova versione del sistema di collaudo automatico Medalist i3070 Series 5i Inline di Agilent è un tester in-circuit specificatamente progettato per essere inserito in linee di produzione automatizzate.

Si tratta di una macchina che occupa in fabbrica circa un terzo meno spazio rispetto a un classico tester della serie 3070 e che è stata progettata per facilitarne l'integrazione all'interno di linee ad alta produttività dove gli interventi degli operatori sono ridotti al minimo.

Leggi tutto: Tester in-circuit per linee automatizzate

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 24 Settembre 2013

Lo strumento dedicato al collaudo automatico di circuiti integrati analogici o a segnali misti T2000 8GWGD di Advantest integra un generatore di forme d'onda con una frequenza di campionamento di 8 Gsps  e un digitalizzatore da 8 GHz.

Si tratta di un ulteriore modulo disponibile per la piattaforma T2000 particolarmente utile per il collaudo di circuiti integrati SoC (System on Chip) che facilita la generazione di segnali di stimolo e l'acquisizione delle risposte sulle interfacce dei dispositivi di comunicazioni ad alta velocità e ad alta frequenza, che sono molte utilizzati per i collegamenti con memorie di massa ad alta velocità.

Leggi tutto: Generatore forme d'onda e digitalizzatore per collaudo IC

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 03 Settembre 2013

Advantest entra nel mercato del collaudo delle schede di memoria allo stato solido SSD (Solid State Drive) e bus di comunicazione PCI Express 3.0 NVMe con la sua nuova piattaforma di collaudo automatico NEO-SSD.

La piattaforma configurabile NEO-SSD proposta da Advantest è in grado di supportare molteplici protocolli e soddisfa le esigenze del collaudo di sistemi di memoria allo stato solido a livello di sistema, sia per attività di validazione e controllo qualità, sia a livello di produzione.

Leggi tutto: Sistema di collaudo per memorie allo stato solido

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 23 Luglio 2013

Advantest ha presentato il nuovo sistema T5831 dedicato al collaudo di circuiti integrati di nuova generazione destinato al settore dei terminali e reti mobili, comprese le memorie NAND Flash con interfaccia ad alta velocità ONFi (Open NAND Flash Interface) e Toggle Mode.

Il nuovo tester automatico permette anche di verificare contemporanemente il corretto funzionamento della memoria NAND Flash e DRAM mobile assemblate nello stesso package del circuito integrato.

Leggi tutto: Tester per NAND Flash e NAND MCP