Siemens Tessent AnalogTest, software per la generazione automatizzata di test per circuiti analogici
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Siemens Digital Industries Software ha presentato Tessent AnalogTest, una soluzione innovativa che riduce i tempi di generazione dei modelli per i test dei circuiti analogici da mesi a giorni. La soluzione consente di verificare i circuiti analogici nei circuiti integrati (IC) con una velocità fino a 100 volte superiore rispetto ai metodi manuali tradizionali.
Il collaudo dei circuiti analogici è sempre stato un'attività laboriosa, che richiedeva una codifica dei test prolungata e costose apparecchiature di collaudo a segnale misto. In combinazione con la tecnologia Tessent DefectSim di Siemens, il nuovo software Tessent AnalogTest contribuisce a ridurre drasticamente i tempi di codifica dei test per i circuiti analogici nei circuiti integrati, generando automaticamente circuiti DFT (design-for-test) a impatto minimo e modelli di test digitali per quasi tutti i blocchi di circuiti analogici.
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- Scritto da Marco Caratti
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Emerson ha presentato una nuova edizione della sua piattaforma software NI SystemLink, che facilita la collaborazione tra i tecnici del collaudo configurando e monitorando da remoto i sistemi di test costituiti da schede modulari NI PXI, moduli NI CompactRIO e dispositivi di acquisizione dati collegati a PC.
Leggi tutto: Gestione centralizzata dei test per team di tutte le dimensioni
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- Scritto da Simone Castelli
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Teradyne ha annunciato il lancio di Magnum 7H, il suo tester di memorie di nuova generazione progettato per soddisfare le rigorose esigenze di collaudo dei dispositivi di memoria ad elevata larghezza di banda (HBM, High Bandwidth Memory), che vengono tipicamente utilizzati insieme a GPU e acceleratori nei server ad alte prestazioni per l’Intelligenza Artificiale generativa.
Il tester Magnum 7H è stato progettato per poter effettuare test ad elevato livello di parallelismo, alta velocità e massima precisione su memorie HBM con più die sovrapposti (stacked die) prodotte in grandi volumi.
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- Scritto da Simone Castelli
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NI LabVIEW+ Suite for HIL è il pacchetto software proposto dalla divisione Test & Measurement di Emerson (ex National Instruments) pensato per soddisfare le esigenze di chi sviluppa e verifica software per sistemi embedded utilizzando sistemi di test in una configurazione con Hardware-In-the-Loop (HIL).
LabVIEW+ Suite for HIL riunisce strumenti di test, validazione e analisi dei dati in una piattaforma unificata, al fine di semplificare i flussi di lavoro e accelerare il time-to-market dei sistemi elettronici embedded.
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- Scritto da Stefano Cazzani
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Microtest ha presentato il suo nuovo tester Vip Ultra dedicato al collaudo dei dispositivi a semiconduttore di potenza tipicamente utilizzati nei mercati automotive, accumulo energetico, infrastrutture 5G e data center.
La nuova piattaforma di test 'made in Italy' permette di verificare i componenti elettronici sia in DC che mediante stress energetico con livelli di tensione fino a 4 kV e ad elevato parallelismo.
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