La nuova soluzione di collaudo T2000 IP Engine 4 (Image Processing Engine 4) di Advantest permette di elaborare le immagini molto velocemente facilitando il test dei sensori di immagine CMOS (CIS).
Una volta integrato nella piattaforma di collaudo per semiconduttori T2000 ISS, il nuovo sistema T2000 IP Engine 4, rappresenta lo strumento ottimale per valutare i dispositivi CIS più recenti ad alta risoluzione e ad alta velocità frequentemente utilizzati nelle fotocamere, come quelle presenti negli smartphone avanzati.
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Advantest Corporation ha lanciato la sua nuova gamma di schede a canali digitali Link Scale per la sua piattaforma di collaudo automatico V93000, che permettono l’esecuzione di test funzionali sui circuiti integrati SoC (System on Chip) tramite le interfacce seriali ad alta velocità USB e PCI Express (PCIe)
Molti dei circuiti integrati SoC di ultima generazione, come microprocessori, processori grafici e acceleratori di applicazioni AI (intelligenza artificiale) sono dotati di interfacce digitali ad alta velocità, quali USB o PCIe, che possono essere sfruttate dalle nuove schede Link Scale per trasferire in modo estremamente rapido i dati di stimolo per effettuare i collaudi funzionali e le scansioni, aumentando al contempo la copertura e la velocità del test.
Leggi tutto: Schede Advantest Link Scale per il collaudo di circuiti integrati SoC complessi
Con il rilascio da parte di Tektronix del software KTE V7.1 per il sistema di test parametrico serie S530 di Keithley, viene accelerato lo sviluppo di dispositivi a semiconduttore in un momento in cui la richiesta di questi chip non è mai stata così elevata.
Tra le opzioni disponibili per la prima volta con la release 7.1 di KTE, da segnalare una nuova funzionalità per il test parallelo e la possibilità di effettuare il collaudo delle capacità ad alta tensione, particolarmente utile per i dispositivi di potenza di nuova generazione e per quelli realizzati con materiali WBG – Wide BandGap.
Advantest ha sviluppato delle metodologie innovative per effettuare scansioni ad alta velocità e test funzionali basati sul software con la sulla piattaforma di collaudo automatico dei semiconduttori V93000.
Sfruttando le interfacce I/O seriali ad alta velocità disponibili nei circuiti integrati (IC) avanzati, questo nuovo approccio permetterà di confrontare i risultati delle scansioni basate su procedure consolidate con quelli delle nuove procedure, eseguire software per effettuare test più esaustivi sui su chip e ottenere un flusso continuo di dati end-to-end che verrano condivisi con i partner di Advantest nel campo dell’automazione della progettazione elettronica (EDA).
Advantest ha presentato due nuovi strumenti di misura hardware per applicazioni generiche, il modulo digitale 500MDM e il modulo di alimentazione DPS32A, che permettono di incrementare le capacità della piattaforma di test T2000 in diverse applicazioni, come il collaudo di dispositivi system-on-a-chip (SoC), circuiti integrati di gestione dell’alimentazione, dispositivi automotive e sensori CMOS per le immagini.
Entrambe le nuove unità hardware possono essere integrate in sistemi di test già esistenti, come la piattaforma di test T2000 AiR, il cui design compatto è ideale per l’impiego in ambienti diversi, dai laboratori d’ingegneria alla produzione in grande serie.
Leggi tutto: Modulo digitale e di alimentazione per tester Advantest T2000
