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EVA100 Digital SolutionAdvantest ha presentato il tester EVA100 Digital Solution, ultimo nato della sua famiglia di sistemi automatici di collaudo compatti per dispositivi a semiconduttore, che consente di caratterizzare e verificare il corretto funzionamento di un’ampia gamma di circuiti integrati digitali, come dispositivi per applicazioni IoT (Internet of Things), microcontrollori (MCU) e circuiti integrati logici basati su tecniche di Design-For-Test (DFT) e Built-In Self-Test (BIST).

Disponibile sia nei modelli per linea di produzione che per sviluppo ingegneristico, il nuovo tester EVA100 Digital Solution offre funzionalità quali valutazione della progettazione, misure di front-end e back-end, analisi dei guasti, verifica del package e controlli di accettazione dei dispositivi.

Leggi tutto: EVA100 Digital Solution per il test di circuiti integrati digitali

Sistemi di collaudo funzionale Keysight TS-8989Keysight Technologies ha presentato una nuova soluzione di riferimento dedicata al collaudo funzionale di sistemi e centraline elettroniche per applicazioni automobilistiche.

Chiamata TS-8989 Body and Safety Electronics Reference Solution, si tratta di una soluzione pronta all’uso basata su moduli in formato PXI e software di gestione per eseguire test funzionali completi sui sistemi elettronici di controllo e sui sistemi di sicurezza utilizzati nei veicoli.

Leggi tutto: Collaudo funzionale sistemi elettronici per auto

Tester Advantest T5851Advantest ha presentato il sistema di collaudo automatico T5851 progettato specificatamente per verificare il corretto funzionamento dei circuiti integrati di memoria utilizzati nei dischi allo stato solido (SSD) con interfaccia Universal Flash Storage (UFS) e PCIe BGA, attualmente molto richiesti dai produttori di dispositivi mobili a basso consumo quali smartphone, tablet e laptop ultraportatili.

Il tester T5851 è disponibile sia in versione da linea di produzione che in quella orientata allo sviluppo ingegneristico e alla validazione dei nuovi prodotti.

Leggi tutto: Tester per memorie ad alta velocità Advantest T5851

Tester per IC a segnali misti e sensori Advantest EVA100 Model PAdvantest ha presentato la versione per linea di produzione del sistema di misura EVA100 dedicato alla verifica di sensori, circuiti integrati analogici e a segnali misti con un numero ridotto di pin.

Totalmente compatibile con il sistema di caratterizzazione per ambienti di sviluppo ingegneristico EVA100 introdotto lo scorso anno, il nuovo modello per linee di produzione dà la possibilità di configurare un ambiente di misura coordinato che funziona con le stesse modalità, a partire dalla valutazione iniziale del progetto fino alla produzione in grande serie.

Leggi tutto: Advantest EVA100 per collaudo di sensori e circuiti integrati analogici e a segnali misti

Wireless Test System di National InstrumentsWireless Test System (WTS) è la nuova soluzione proposta da National Instruments per il collaudo in produzione di dispositivi e apparecchiature di comunicazione wireless, dai chipset alle radio per applicazioni automobilistiche, dai moduli ricetrasmittenti ai sensori per applicazioni in ambito Internet delle Cose.

Si tratta di un sistema di collaudo modulare basato sulla piattaforma PXIe che abbina dei potenti strumenti RF riprogrammabili tramite FPGA integrata con una matrice di commutazione e un software di controllo personalizzabile.

Leggi tutto: NI Wireless Test System