Advantest ha presentato il suo nuovo tester per semiconduttori T2000 AiR, un sistema di collaudo automatico compatto e raffreddato ad aria ottimizzato per il collaudo a basso costo adatto sia ai laboratori di ricerca e sviluppo, sia agli ambienti di produzione a basso volume di prodotti differenziati.
Il tester per semiconduttori T2000 AiR di Advantest offre un'estesa copertura per il collaudo dei diversi moduli e dispositivi System-in-Package (SiP). Grazie all'architettura modulare caratterizzata da estrema flessibilità, il tester permette la configurazione con sei moduli di misura raffreddati ad aria.
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Tektronix ha presentato il sistema di collaudo parametrico per semiconduttori di potenza totalmente automatico Keithley S540, che permette di effettuare test parametrici totalmente automatici sui wafer usando 48 pin.
Si tratta di uno strumento ottimizzato per effettuare prove fino a 3 kV su dispositivi di potenza e strutture realizzate con i materiali composti di ultima generazione, tra cui carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN), oltre che di effettuare le classiche misure ad alta tensione, basse tensione e di capacità su ogni tipo di materiale semiconduttore con un singolo contatto della sonda sul wafer.
Leggi tutto: Sistema di collaudo per semiconduttori di potenza Keithley S540
L'unità di alimentazione e misura (SMU) in formato modulare PXIe M9211A di Keysight è caratterizzata da una velocità particolarmente elevata, che facilita l'esecuzione di collaudi automatici anche complessi mantenendo una grande accuratezza e stabilità in presenza di carichi dinamici.
Il sistema di alimentazione della scheda M9111A può passare da una impostazione di uscita ad un'altra in meno di 1 ms misurando contestualmente correnti assorbite dell'ordine dei microampere.
Leggi tutto: Unità di alimentazione e misura PXIe Keysight M9211A
Keysight Technologies ha presentato un cestello PXIe Gen 3 e una serie di componenti di sistema Gen 3 progettati per facilitare la realizzazione di applicazioni complesse di misura e collaudo ad alte prestazioni.
Le terza generazione del bus PXIe permette di aumentare notevolmente la larghezza di banda del sistema di interconnessione interno tra le schede in formato modulare, che potenzialmente può arrivare ora a 24 GB/s.
Advantest ha presentato la nuova unità di stimolo di temperatura e pressione HA7200 progettata per applicare corretti valori di temperatura e pressione necessari per il collaudo finale dei sensori di pressione.
Il sistema permette di collaudare fino a quattro sensori all’interno una camera di dimensioni ridotte con controllo della temperatura gestito tramite la tecnologia dual-fluid già utilizzata negli handler Advantest. L'unità HA7200 permette di regolare rapidamente e in modo precisa i valori di temperatura e pressione ottimizzando il tempo di ciclo e l'accuratezza dei processi di taratura e collaudo finale dei sensori.
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