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Sistema di collaudo automatico Advantest EVA100Advantest ha presentato una nuova piattaforma destinata al collaudo e caratterizzazione di circuiti integrati e altri componenti elettronici analogici e misti con un numero di piedini ridotto.

Il nuovo strumento EVA100 è un sistema di collaudo automatico modulare decisamente più economico rispetto ai classici ATE da linea di produzione e nasce per soddisfare i requisiti dei laboratori di ricerca e caratterizzazione dell'industria elettronica.

Analizzatore packaging circuiti integrati Advantest TS9000Advantest ha presentato un nuovo sistema di collaudo capace di misurare lo spessore del packaging dei semiconduttori.

Il sistema MTA (Mold Thickness Analysis) TS9000 è basato sull'utilizzo delle onde Terahertz (THz), che permettono di valutare in modo non distruttivo le caratteristiche del contenitore stampato che avvolge il chip di un circuito integrato.

ATE per semiconduttori NI STSNI Semiconductor Test System (STS) è il completamente nuovo sistema di collaudo automatico per semiconduttori recentemente presentato da National Instruments, che mira ad entrate in nuovo segmento di mercato puntando tutto sull'architettura modulare PXI.

La nuova famiglia di ATE di National Instruments promette di abbassare i costi rispetto alle soluzioni tradizionali sfruttando al massimo le architetture hardware standard aperte e le sue piattaforme software come TestStand e LabVIEW.

Tester Advantest V93000Advantest ha presentato il nuovo alimentatore flottante PVI8 che amplia le funzionalità della sua piattaforma di collaudo automatico per circuiti integrati V93000, che semplifica l'esecuzione di test ad alta tensione e ad alta corrente di dispositivi di potenza.

La nuova opzione permette di disporre nel tester V93000 di tutta la potenza necessaria e di un adeguato numero di canali analogici e digitali necessari per affrontare il collaudo ad elevato parallelismo di circuiti integrati di potenza a costi contenuti.

Piattaforma di test Advantest T2000Advantest ha presentato un nuovo modulo digitale e un nuovo modulo di alimentazione per potenziare la sua piattaforma T2000 dedicata al collaudo automatico di circuiti integrati system-on-chip (SoC).

Il modulo digitale T2000 1.6GDM da 1,6 Gbit al secondo dispone di una nuova funzione chiamata Functional Test Abstraction Plus (FTA+), che consente di effettuare collaudo tenendo presente le caratteristiche dei protocolli specifici utilizzati dal circuito integrato da collaudare.

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