Advantest ha aggiunto alla sua famiglia di tester per circuiti integrati di memoria H5600 il nuovo modello H5620ES, estremamente versatile e progettato per il collaudo burn-in e core ad alta velocità delle memorie DDR4 e delle memorie DDR5 di prossima generazione, oltre che di dispositivi a bassa potenza e doppio data rate (LPDDR).
Si tratta di una macchina specificatamente progettata per migliora l’efficienza di collaudo negli ambienti di laboratorio prima del passaggio alla produzione in grande serie.
Leggi tutto: Tester di circuiti integrati di memoria DDR4 e DDR5
Advantest Corporation ha lanciato la sua nuova generazione di schede Wave Scale dedicate ai segnali a radiofrequenza per la piattaforma di collaudo automatico V93000, che permettono di eseguire velocemente tutti i test sui ricetrasmettitori per reti Wi-Fi 6E, 5G-NR, LTE-Advanced Pro e IoT che lavorare con frequenze fino a 8 GHz.
La nuova scheda V93000 Wave Scale RF8 è in grado di eseguire collaudi multisito ad elevato parallelismo e in-site, riducendo il costo del collaudo e il time-to-market per i moderni semiconduttori RF, in particolare quelli destinati alle reti 5G NR.
Nel 1989 la Fiat Tipo vinceva il premio Auto dell'Anno, mentre Hewlett-Packard (antenata dell'odierna Keysight) presentava il sistema di collaudo automatico 3070, un tester in-circuit destinato a fare la storia nel settore della produzione elettronica.
A distanza di trent'anni, per la Fiat Tipo non si paga più nemmeno il bollo in quanto auto d'epoca, mentre la quinta generazione del mitico tester 3070 è stata appena presentata da Keysight col dovuto rispetto in occasione della fiera Productronica (e chiamata i3070 Series 6 in omaggio alle superstizioni cinesi).
Leggi tutto: Sistema di collaudo in-circuit Keysight i3070 Serie 6
In occasione della Productronica 2019, l'azienda tedesca Konrad Technologies ha presentato una particolare soluzione dedicata al collaudo e validazione dei radar automoblistici a onde millimetriche nella banda dei 76-81 GHz.
Oltre a un sistema di movimentazione che consente di effettuare misura sul sensore radar da qualunque angolazione, il tester integra la particolare camera termica di misura ed elevata efficienza energetica sviluppata da Konrad per effettuare prova in un intervallo di temperatura potenzialmente compreso tra -40° C a +85 °C.
Advantest Corporation ha ulteriormente potenziato la piattaforma di collaudo automatico di semiconduttori T2000 con il lancio di due nuovi moduli e una testa di misura appositamente progettati per il collaudo in grandi volumi di dispositivi elettronici utilizzati in applicazioni automotive.
Il nuovo sistema è stato studiato per ampliare la copertur dei test, aumentare il parallelismo e ridurre i costi di collaudo dei dispositivi system-on-chip (SoC) impiegati sulle automobili, un segmento di mercato con un tasso previsto di crescita annuale composto pari al 9,6% dal 2019 al 2022.
Leggi tutto: Moduli e testa di misura per il test di dispositivi SoC per automotive
