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Cella di test Advantest HA1100 MT200Advantest ha annunciato la sviluppo di una cella di test integrata progettata per massimizzare i rendimenti dei test a livello di die sui dispositivi di potenza con semiconduttori ad elevata banda proibita (wide-bandgap).

La nuova cella di test Known Good Die (KGD) di Advantest combina il tester per dispositivi di potenza della serie CREA MT dell'azienda con il nuovo die prober HA1100.

Leggi tutto: Cella di test Advantest KGD per semiconduttori di potenza

Tester Keysight ETSKeysight Technologies ha presentato il suo nuovo tester ETS (Electrical Structural Tester), un'innovativa soluzione per l'ispezione dei wire bond nella produzione di semiconduttori che garantisce l'integrità e l'affidabilità dei componenti elettronici.

L'industria dei semiconduttori si trova ad affrontare sfide di collaudo dovute alla crescente densità di chip in applicazioni mission-critical come i dispositivi medici e i sistemi automobilistici.

Leggi tutto: Tester per l'ispezione dei wire bond

Scheda per ATE AdvantestAdvantest ha annunciato l'ultima aggiunta al suo portafoglio di alimentatori per la piattaforma di collaudo automatico di dispositivi SoC (System on Chip) V93000 EXA Scale.

L'alimentatore DC Scale XHC32 offre 32 canali con una capacità di erogare un'intensità di corrente totale senza precedenti per singolo strumento, fino a ben 640 A, per soddisfare nel modo più efficiente i sempre più estremi requisiti di alimentazione dei chip acceleratori  per intelligenza artificiale (AI), i chip HPC (High Performance Computing), le unità di elaborazione grafica (GPU) e altri dispositivi ad alta richiesta di corrente, come gli switch di rete e i processori applicativi di fascia alta.

Leggi tutto: Alimentatore ad altissima intensità di corrente per il sistema di test V93000 EXA Scale di Advantest

Advantest ACSAdvantest ha annunciato che la sua infrastruttura di dati in tempo reale ACS RTDI (Real-Time Data Infrastructure), lanciata di recente, è stata accettata da diverse importanti società come parte di una collaborazione a livello industriale per accelerare l'analisi dei dati di collaudo di semiconduttori e il processo decisionale basato su algoritmi intelligenza artificiale (AI)/machine learning (ML) all'interno di un'unica piattaforma integrata.

Advantest ha costituito ACS nel 2020 con l'obiettivo di creare una piattaforma di raccolta ed elaborazione dati per favorire lo sviluppo di un ecosistema di soluzioni aperte. ACS RTDI è un'infrastruttura di dati in tempo reale che raccoglie, analizza, archivia e monitora in modo sicuro i dati di test dei semiconduttori, per consentire ai clienti di automatizzare il processo di interpretazione dei risultati e prendere decisioni sulle migliori procedure di test da utilizzare entro pochi millisecondi.

Leggi tutto: Piattaforma RTDI (Real-Time Data Infrastructure) per ottimizzare il test dei semiconduttori

Testonica test targetsL'azienda estone Testonica ha sviluppato un ingegnoso metodo per semplificare il collaudo funzionale delle schede a circuito stampato sfruttando gli stessi circuiti integrati FPGA (Field Programmable Gate Array) ormai presenti in quasi tutti i sistemi elettronici moderni.

I "Quick Instruments (QI)" di Testonica sono dei veri e propri strumenti di misura e collaudo virtuali che vengono temporaneamente iniettati come firmware della FPGA della scheda durante una fase di test.

Leggi tutto: Test funzionali tramite le FPGA presenti nelle schede

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