- Dettagli
- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
Advantest ha presentato oggi SiConic Test Engineering (TE), un soluzione che semplifica i test strutturali e funzionali su interfacce I/O ad alta velocità (HSIO) in un ambiente di laboratorio scalabile, che consente di validare ed effettuare il debug dei chip senza dover ricorrere a ben più grandi e costosi sistemi ATE.
SiConic Link si collega in modo flessibile alle schede di valutazione standard attraverso interfacce funzionali come USB, PCIe, interfacce di controllo e GPIO. SiConic TE consente così ai tecnici del collaudo di validare e ed effettuare il debug delle procedure di verifica del progetto (DV, Design Verification) e di progettazione per il test (DFT, Design for Test) nell'ambiente unificato di SiConic sul banco di prova.
Aggiungi commento
- Dettagli
- Scritto da Stefano Cazzani
- Categoria: ATE
Teradyne ha presentato una cella di collaudo per elevati volumi di produzione con wafer prober a doppia faccia per fotonica integrata su silicio (silicon photonics). Questa soluzione innovativa è stata progettata per soddisfare la crescente domanda di test elettro-ottici ad alta produttività dei wafer fotonici in silicio, trainata dalle applicazioni che utilizzano dispositivi elettroottici integrati CPO (Co-Packaged Optics).
La nuova cella di test integra il sistema di collaudo automatico (ATE) UltraFLEXplus di Teradyne e l'ambiente di programmazione IG-XL con le tecnologie avanzate di allineamento ottico, connessione e manipolazione dei wafer di ficonTEC. Questa collaborazione consente di collaudare wafer PIC/EIC ibridi in un ambiente di produzione.
Leggi tutto: Sistema di test dei wafer a doppia faccia per la fotonica integrata su silicio
- Dettagli
- Scritto da Marco Caratti
- Categoria: ATE
Advantest ha presentato un nuovo multiplexer di potenza sviluppato appositamente per la sua test dedicata al collaudo di dispositivi integrati SoC (System on Chip) V93000 EXA Scale.
Il MUX di potenza PMUX02 offre capacità senza precedenti per il test in parallelo (multisite) di dispositivi analogici e di potenza, tra cui sistemi di gestione delle batterie (BMS), dispositivi per automotive e circuiti integrati per la gestione dell'alimentazione.
Leggi tutto: Multiplexer di potenza per la piattaforma di test Advantest V93000 EXA Scale
- Dettagli
- Scritto da Stefano Cazzani
- Categoria: ATE
Advantest ha annunciato la sviluppo di una cella di test integrata progettata per massimizzare i rendimenti dei test a livello di die sui dispositivi di potenza con semiconduttori ad elevata banda proibita (wide-bandgap).
La nuova cella di test Known Good Die (KGD) di Advantest combina il tester per dispositivi di potenza della serie CREA MT dell'azienda con il nuovo die prober HA1100.
Leggi tutto: Cella di test Advantest KGD per semiconduttori di potenza
- Dettagli
- Scritto da Stefano Cazzani
- Categoria: ATE
Keysight Technologies ha presentato il suo nuovo tester ETS (Electrical Structural Tester), un'innovativa soluzione per l'ispezione dei wire bond nella produzione di semiconduttori che garantisce l'integrità e l'affidabilità dei componenti elettronici.
L'industria dei semiconduttori si trova ad affrontare sfide di collaudo dovute alla crescente densità di chip in applicazioni mission-critical come i dispositivi medici e i sistemi automobilistici.
I Più Visti
Cosa sono le onde millimetriche?
Che significa multimetro True RMS?
In Prova: Multimetro con termocamera FLIR DM284
C'è differenza tra precisione e accuratezza?
Che cos'è e come funziona una SMU?