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Tester Advantest T5851Advantest ha presentato il sistema di collaudo automatico T5851 progettato specificatamente per verificare il corretto funzionamento dei circuiti integrati di memoria utilizzati nei dischi allo stato solido (SSD) con interfaccia Universal Flash Storage (UFS) e PCIe BGA, attualmente molto richiesti dai produttori di dispositivi mobili a basso consumo quali smartphone, tablet e laptop ultraportatili.

Il tester T5851 è disponibile sia in versione da linea di produzione che in quella orientata allo sviluppo ingegneristico e alla validazione dei nuovi prodotti.

Tester per IC a segnali misti e sensori Advantest EVA100 Model PAdvantest ha presentato la versione per linea di produzione del sistema di misura EVA100 dedicato alla verifica di sensori, circuiti integrati analogici e a segnali misti con un numero ridotto di pin.

Totalmente compatibile con il sistema di caratterizzazione per ambienti di sviluppo ingegneristico EVA100 introdotto lo scorso anno, il nuovo modello per linee di produzione dà la possibilità di configurare un ambiente di misura coordinato che funziona con le stesse modalità, a partire dalla valutazione iniziale del progetto fino alla produzione in grande serie.

Wireless Test System di National InstrumentsWireless Test System (WTS) è la nuova soluzione proposta da National Instruments per il collaudo in produzione di dispositivi e apparecchiature di comunicazione wireless, dai chipset alle radio per applicazioni automobilistiche, dai moduli ricetrasmittenti ai sensori per applicazioni in ambito Internet delle Cose.

Si tratta di un sistema di collaudo modulare basato sulla piattaforma PXIe che abbina dei potenti strumenti RF riprogrammabili tramite FPGA integrata con una matrice di commutazione e un software di controllo personalizzabile.

Tester per memorie Advantest T5833Advantest ha presentato il nuovo sistema automatico di collaudo per memorie T5833, una soluzione per effettuare i test sulle linee di produzione capace sia di verificare e selezionare i wafer, sia di effettuare i collaudi finali sui dispositivi di memoria DRAM e NAND flash.

Le memorie DRAM e NAND flash e i multi-chip package (MCP) stanno rapidamente evolvendo per supportare sia velocità più elevate, sia una maggiore capacità di memorizzazione. Il costo per collaudare l'ampia schiera di dispositivi di memoria oggi disponibili rappresenta un ostacolo per i produttori di chip, che necessitano urgentemente di soluzioni che possano offrire elevate funzionalità, ottime prestazioni e un basso costo di collaudo.

Tester Advantest T2000Advantest ha presentato una nuova soluzione dedicata al collaudo automatico di ricetrasmettitori ottici per la sua famiglia di tester per semiconduttori T2000.

Il nuovo modulo 28G OPM (28 gigabit Optical Port Module) permette di collaudare simultaneamente fino a 8 ricetrasmettitori a 100 Gbps. Per collaudare ciascun ricetrasmettitore a 100 Gbps si utilizzano quattro canali con porte ottiche ed elettriche funzionanti fino a a 28 Gbps.

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