FocusonPCB - Vicenza, 13-14 maggio 2026
"Focus on PCB – From Design to Assembly” torna a Vicenza il 13 e 14 maggio 2026 confermandosi come l’evento di riferimento in Europa per l’industria dei circuiti stampati e per…
Le unità di alimentazione e misura combinano una sorgente di tensione, una sorgente di corrente e funzionalità di misura in un unico strumento. Continua...
Conosci la differenza tra precisione e accuratezza?
Per scegliere il modello più adatto al proprio lavoro occorre non solo fare riferimento alle specifiche di base. Continua...
l sistemi di acquisizione e registrazione dati portatili Sefram DAS 30 e DAS 50 sono i due strumenti di ultima generazione presentati dall'azienda francese.
Caratterizzati da grande robustezza, testimoniata dalla classificazione IEC 61010 CAT III a 600 V, hanno la possibilità di acquisire rispettivamente fino a 2 o 4 canali analogici, oltre a 16 canali digitali.
Leggi tutto: Registratori dati portatili Sefram DAS30 e DAS50
Venerdì 3 luglio è stata inaugurata Polifab, la nuova facility di micro e nano fabbricazione del Politecnico di Milano. Il cuore della struttura è costituito da una camera pulita di 370 m2 realizzata in un edificio a due passi dal nucleo storico dell'Università di Piazza Leonardo da Vinci, più conosciuto tra gli Alumni con il soprannome di "Cremlino".
Valorizzando una consistente donazione di macchinari dei dismessi Pirelli Labs, l’Ateneo ha investito 2 milioni di euro a fronte di un valore complessivo della strumentazione di circa 8 milioni.
Il test set EXM di Keysight Technologies è stato potenziato con delle nuove funzionalità dedicate al collaudo di wireless LAN basate sui più recenti standard 802.11ah e 802.11af.
Si tratta dei due standard pensati per ampliare ulteriormente il campo d'azione delle reti wireless, con particolare attenzione alle applicazioni emergenti in ambito IoT (Internet-of-Things).
Leggi tutto: Collaudo WLAN 802.11ah e 802.11af con il test set Keysight EXM
Anritsu ha presentato i nuovi moduli MP1861A MUX e MP1862A DEMUX per il suo analizzatore di qualità dei segnali MP1800A mediante i quali è possibile estendere le misure del tasso di errore sul bit (BER) fino a velocità di 64 Gb/s.
L'aumento della velocità consente di misurare anche i dispositivi per la trasmissione seriale ad elevata velocità di ultima generazione, come i più recenti SERDES (serializzatori-deserializzatori).
Leggi tutto: Misure Ber fino a 64 Gb/s con l'analizzatore Anritsu MP1800A
Advantest ha presentato il nuovo sistema automatico di collaudo per memorie T5833, una soluzione per effettuare i test sulle linee di produzione capace sia di verificare e selezionare i wafer, sia di effettuare i collaudi finali sui dispositivi di memoria DRAM e NAND flash.
Le memorie DRAM e NAND flash e i multi-chip package (MCP) stanno rapidamente evolvendo per supportare sia velocità più elevate, sia una maggiore capacità di memorizzazione. Il costo per collaudare l'ampia schiera di dispositivi di memoria oggi disponibili rappresenta un ostacolo per i produttori di chip, che necessitano urgentemente di soluzioni che possano offrire elevate funzionalità, ottime prestazioni e un basso costo di collaudo.
Leggi tutto: Sistema di collaudo per memorie Advantest T5833
