Utilizzando una combinazione di strumenti di misura all'avanguardia e una strategia di manutenzione ben progettata, le aziende possono identificare dove sprecano energia e come risolvere il problema, aumentando l'efficienza e la produttività, riducendo i costi e rispettando gli obiettivi di sostenibilità.
Negli affari si dice che il tempo è denaro, ma in un ambiente industriale l'energia è denaro. L'inefficienza o lo spreco di energia possono essere identificati dalle deviazioni dell'andamento della temperatura ma, ancora oggi, troppe aziende non sono consapevoli dell'entità dei loro sprechi energetici e del loro costo.
Leggi tutto: Ridurre al minimo i costi operativi massimizzando l'efficienza energetica
Questo articolo illustra la sostituzione degli switch PhotoMOS con degli switch CMOS nei sistemi di collaudo automatico (ATE).
Gli switch CMOS non solo offrono i vantaggi prestazionali dei PhotoMOS in termini di prodotto capacità-resistenza (CxR), ma offrono anche velocità di accensione (turn-on), affidabilità e scalabilità superiori, che li rendono adatti a soddisfare le esigenze in continua evoluzione dei sistemi ATE nell'era dei test sulle memorie avanzate.
Leggi tutto: Sostituzione degli switch PhotoMOS con switch CMOS nei sistemi di collaudo automatico
Per caratterizzare i componenti attivi o passivi come filtri, amplificatori e mixer, lo strumento d’elezione è l’analizzatore di reti vettoriale, o VNA (Vector Network Analyzer). Tuttavia, limitandosi ad un intervallo di frequenze non tipico dell’analisi RF o dei segnali microonde, anche i moderni oscilloscopi digitali permettono di indagare dettagliatamente sulla risposta in frequenza dei componenti in esame.
Anzi, molte volte si richiede un range di indagine che si estende alle basse frequenze (a volte fino a pochi Hertz) che è al di fuori della portata dei VNA; in questi casi l’oscilloscopio diventa lo strumento d’elezione per l’analisi delle reti.
Leggi tutto: Analisi vettoriali delle reti con l'oscilloscopio
Questo articolo descrive l'utilizzo di un substrato di calibrazione Through [anche denominato Thru] Reflect Line (TRL) on-wafer per applicazioni ad ampia larghezza di banda.
L'analizzatore di reti vettoriale (VNA) VectorStar ME7838G di Anritsu, con la sua tecnologia Shockline, è il punto di riferimento nelle applicazioni a banda larga e viene utilizzato come esempio. Inoltre, vengono presentati i confini del substrato di calibrazione TRL multilinea standard (calsubstrate) insieme a scenari che non possono essere risolti attraverso l'uso di TRL.
Leggi tutto: Utilizzo di substrati di calibrazione on-wafer a banda larga da 70 kHz a 220 GHz
Da tempo gli oscilloscopi hanno integrato notevoli capacità di analisi spettrale grazie ad algoritmi rapidi di calcolo della trasformata di Fourier (FFT, Fast Fourier Transform) che permettono di calcolare in tempi brevissimi lo spettro del segnale acquisito, sempre più spesso anche in tempo reale.
Gli algoritmi di calcolo ed elaborazione del segnale (DSP) ormai sono comunemente implementati negli oscilloscopi digitali più moderni su FPGA o processori DSP dedicati, che uniti ai convertitori analogico/digitali (ADC) ad elevata risoluzione (10, 12 bit) offrono caratteristiche di dinamica e accuratezza notevoli.
