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Oscilloscopio Agilent 2000 Serie XAgilent Technologies he introdotto una serie di importanti aggiornamenti alle caratteristiche dei suoi oscilloscopi InfiniiVision 2000 Serie X.

Prima novità è l'ampliamento della memoria di acquisizione, che ora può raggiungere 1 M per canale. Inoltre, ora è possibile abilitare la decodifica di protocollo con accelerazione hardware per numerosi bus seriali utilizzati in apllicazioni informatiche, industriali e del settore automobilistico, che in precedenza era disponibile solo per gli strumenti della più potente famiglia 3000 Serie X.

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70 GHzTektronix ha comunicato che nei suoi laboratori di ricerca è stata confermata possibilità di realizzare oscilloscopi con larghezza di banda in tempo reale di 70 GHz (n.d.r. attualmente il suo modello di punta arriva a 33 GHz).

I nuovi oscilloscopi Tektronix da 70 GHz sono attesi per il 2014 dovrebbero essere caratterizzati da prestazioni e in termini di accuratezza e fedeltà di segnale adatta ad affrontare applicazioni come le comunicazioni ottiche e i bus dati seriali di quarta generazione a 400 Gbps ed 1 Tbps.

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Gateway GPIB Agilent E5810BCon il gateway LAN/GPIB/USB E5810B realizzato da Agilent Technologies è possibile collegarsi via LAN e telecomandare fino a 14 strumenti di misura con interfaccia GPIB (Ieee 488), 4 strumenti via USB e 1 strumento tramite l'interfaccia seriale RS232.

La velocità massima supportata dal gateway verso l'interfaccia GPIB è di ben 1,2 MB/s, mentro sul lato della rete locale vengono supportate tutte le più moderne interfacce, come 1000BASE-T (1 Gb/s), 100BASE-TX e la classica 10BASE-T.

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Misuratore di resistenza di terra Hioki FT6380Gli analizzatori amperometrici Hioki FT6380 e FT6381 permettono di eseguire misure sulla resistenza di terra usando una semplice pinza e sono particolarmente utili per riuscire ad effettuare le misure della resistenza di terra su impianti multi-dispersori "impossibili", laddove non sia possibile misurare la resistenza di terra con il classico metodo volt-amperometrico a due elettrodi di terra o con il metodo di loop test (anello di guasto).

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Controllo prober su wafer semiconduttori di potenzaKeithley Instruments ha annunciato presentato la versione 5.0 del suo pacchetto software ACS (Automated Characterization Suite) che è ora supporta una nuova serie di funzioni specifiche per facilitare la caratterizzazione e il collaudo parametrico di semiconduttori di potenza.

La nuova release 5.0 di ACS può sfruttare le risorse di tutte le più recenti unità di alimentazione e misura (SMU) di Keithley, come i modelli ad alta corrente 2651A e ad alta tensione 2657A per consentire il collaudo automatizzato a livello di wafer di semiconduttori ad alta potenza, come MOSFET, IGBT, BJT diodi e così via.

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