I nuovi oscilloscopi per PC Picoscope serie 4000, disponibili a 2 o 4 canali, sono adatti ad impieghi generici, scientifici e di assistenza sul campo.
La risoluzione a 12 bit (regolabile fino a 16 bit nella modalità a risoluzione migliorata) e la precisione all'1% li rendono interessanti per analisi del rumore, delle vibrazioni e meccaniche.
Una combinazione ben assortita di ampiezza di banda analogica di 20 MHz e velocità di campionamento in tempo reale di 80 MS/s consente di campionare forme d'onda analogiche e digitali ad alta frequenza.
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National Instruments ha annunciato la nuova versione 8.6 di Measurement Studio, che fornisce librerie di acquisizione dati e controllo strumenti e nuove tecnologie per le ultime release di .NET e C++ per l'ambiente di sviluppo Visual Studio 2008 di Microsoft.
Measurement Studio 8.6 dispone di un set completo di librerie di classi .NET e C++, tool e driver per acquisizione dati e controllo strumenti per Microsoft Visual Studio 2008, Microsoft Foundation Class Library (MFC) 9.0 e il Framework .NET 3.5.
Il nuovo multimetro digitale DMB-6 a marchio Lafayette è unisce la misura di luce, suoni, temperature e umidità alle classiche funzionalità elettriche.
Lo strumento è infatti in grado di funzionare come fonometro, luxmetro, igrometro, termometro, tilevatore senza contatto di tensione CA e multimetro digitale con conteggio fino a 4.000.
Berkeley Nucleonics (BNC) ha presentato il primo di una famiglia di prodotti nuovi che verranno introdotti nel 2009, il generatore di funzioni e forme d'onda arbitrarie da 50 MHz modello 645.
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Keithley Instruments ha presentato la versione base del suo software per la redazione delle curve caratteristiche dei componenti elettronici ACS (Automated Characterization Suite) Basic Edition.
Si tratta di un programma da abbinare alla gamma di strumenti di generazione e misura della serie SourceMeter che permette di sostituire i tradizionali tool per il tracciamento di curve con una soluzione in grado di effettuare sia la tracciatura delle curve base sia il test parametrico, a fronte di costi decisamente competitivi.
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