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Oscilloscopio LeCroy WaveAceDa LeCroy ci si aspettano sempre novità nel campo degli oscilloscopi ad altissime prestazioni.

Questa volta è invece il turno di una serie di oscilloscopi molto più economici: i nuovi modelli portatili serie WaveAce.

Leggi tutto: Oscilloscopi LeCroy WaveAce portatili economici da 60 a 300 MHz

Analizzatore di segnali non lineari NLVA AgilentAgilent Technologies ha annunciato la funzionalità di analizzatore vettoriale di reti non lineari (NVNA) per il suo analizzatore di reti a microonde PNA-X per l’analisi a radiofrequenza delle reti non lineari da 10 MHz a 26,5 GHz.

Leggi tutto: Tecnologia innovativa per analizzare i comportamenti non lineari dei componenti attivi

Analizzatore e generatore segnali RF a 6,6 GHzNational Instruments ha annunciato un nuovo analizzatore di segnali vettoriali RF, un generatore di segnali vettoriali RF e un telaio PXI Express a 18 slot in grado di realizzare misure RF flessibili molto veloci e facilmente velocizzabili.

I due nuovi strumenti modulari definiti via software, l’analizzatore vettoriale di segnali RF PXIe-5663 e il generatore di segnali vettoriale RF PXIe-5673, vengono utilizzati insieme al cestellio a 18 slot ad elevata ampiezza di banda PXIe-1075.

Leggi tutto: Analizzatore e generatore di segnali vettoriali PXI Express a 6,6 GHz

Sisteme di test MIMO 8x8 KeithleyKeithley Instruments ha presentato il primo sistema di misura adatto ai sistemi di comunicazione in tecnologia MIMO (Multiple Input Multiple Output) in configurazione 8x8.

Il sistema è indicato per svolgere attività di ricerca e sviliuppo nel settore dei sistemi e tecnologie RF MIMO di nuova generazione.

Leggi tutto: Sistema di test per MIMO 8x8 da Keithley

Analizzatore di semiconduttori Keithley InstrumentsKeithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).

Leggi tutto: Caratterizzazioni C-V, I-V e I-V impulsive migliorate con per l’analizzatore di semiconduttori...

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