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Caratterizzazione componenti con ACS Basic EditionKeithley Instruments ha presentato la versione base del suo software per la redazione delle curve caratteristiche dei componenti elettronici ACS (Automated Characterization Suite) Basic Edition.

Si tratta di un programma da abbinare alla gamma di strumenti di generazione e misura della serie SourceMeter che permette di sostituire i tradizionali tool per il tracciamento di curve con una soluzione in grado di effettuare sia la tracciatura delle curve base sia il test parametrico, a fronte di costi decisamente competitivi.

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Analizzatore di semiconduttori Keithley InstrumentsKeithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).

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Sistema caratterizzazione wafer KeithleyKeithley Instruments ha annunciato di aver apportato significative migliorie al software ACS (Automated Characterization Suite) che ora include come opzione i tool per il collaudo WLR (Wafer Level Reliability) utili per prevedere la durata e l’affidabilità dei dispositivi a semiconduttore. La nuova versione 4.0, realizzata sfruttando le funzionalità esistenti per il test parallelo single o multi-site, integra ora risorse di database così come tool software e licenze opzionali per le nuove funzionalità di analisi dei dati e il modulo RTM (Reliability Test Module).

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Tester Advantest T5503 per memorie DDR3Advantest ha presentato il suo sistema di collaudo automatico per memorie DDR3-SDRAM ad alto parallelismo in grado di collaudare contemporaneamente fino a 128 dispositivi.

Le memorie SDRAM di tipo DDR3 sono alimentate a 1,5 V anziché a 1,8 come i dispositivi di memoria della generazione precedente DDR2, oltre a essere più veloci e più dense.

Il nuovo tester T5503 di Advantest ha una capacità doppia rispetto al modello precedente e permette di ridurre i costi del collaudo nelle linee di produzione ad alta velocità. La velocità massima di collaudo è pari a 3,2 Gbps e permette di eseguire test efficaci sia sui dispositivi di memoria DDR3, sia su quelli GDDR3 e GDDR4.