Seica ha presentato il nuovo sistema di collaudo a sonde mobili per il collaudo di schede a circuito stampato prive di componenti modello S280.
Si tratta di sistema di collaudo orizzontale a sonde mobili progettato appositamente per collaudare qualsiasi tipo di PCB dai più semplici circuiti monofaccia, ai più complessi multistrato, inner-layers e ceramici.
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National Instruments ha presentato la nuova versione NI VeriStand 2009 del suo ambiente software dedicato all'automazione dei sistemi di misura e collaudo e simulazione in tempo reale.
NI VeriStand 2009 permette di configurare un sistema real-time capace di sfruttare le più recenti architetture multicore dei microcessori ed è in grado di supportare interfacce di I/O di terze parti, inclusa una garnde varietà di interfacce I/O basate su FPGA, sistemi di acquisizione dati veloci e numerose altre periferiche.
Keithley Instruments ha annunciato un’estensione del proprio software ACS Basic Edition che ora è in grado di supportare una gamma più ampia di strumenti per l'alimentazione e misura di sistemi e componenti in corrente continua, spesso indicati anche come unità SMU (Source Measure Unit).
La possibilità di scegliere tra un maggior numero di strumenti permette di ampliare l’intervallo di valori limite di tensione e corrente necessari per il collaudo di celle solari, pannelli fotovoltaici e semiconduttori di potenza discreti.
Leggi tutto: Strumenti di alimentazione e misura in corrente continua
Verigy ha presentato SmartRA (Scalable Memory Redundancy Technology), un’opzione d’analisi della ridondanza della memoria per il suo sistema di test V6000 WS.
SmartRA fornisce una soluzione scalabile, flessibile ed economica che consente ai produttori di soddisfare i crescenti requisiti di analisi delle celle ridontanti inserite nelle memorie DRAM.
Il sistema di collaudo automatico V6000 WS di Verigy, presentato nel mese di Novem
Leggi tutto: Analisi della ridondanza per tester di memorie Verigy V6000 WS
Verigy ha presentato il nuovo sistema di collaudo automatico V101 destinato alla selezione ed il test finale di wafer contenenti circuiti integrati a basso costo e microcontrollori.
Il tester nasce per rispondere alla domanda di sistemi a basso costo da parte dei produttori di semiconduttori che devono realizzare componenti molto economici e che non possono sopportare un'incidenza elevata dei costi di collaudo.
Indicativamente, una configurazione tipica a 512 canali I/O è disponibile ad un prezzo inferiore a 300.000 dollari.
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