Keithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).
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Advantest ha presentato il suo sistema di collaudo automatico per memorie DDR3-SDRAM ad alto parallelismo in grado di collaudare contemporaneamente fino a 128 dispositivi.
Le memorie SDRAM di tipo DDR3 sono alimentate a 1,5 V anziché a 1,8 come i dispositivi di memoria della generazione precedente DDR2, oltre a essere più veloci e più dense.
Il nuovo tester T5503 di Advantest ha una capacità doppia rispetto al modello precedente e permette di ridurre i costi del collaudo nelle linee di produzione ad alta velocità. La velocità massima di collaudo è pari a 3,2 Gbps e permette di eseguire test efficaci sia sui dispositivi di memoria DDR3, sia su quelli GDDR3 e GDDR4.