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Controllore PXI National Instruments PXI-8104National Instruments ha presentato due nuovi controller embedded a basso costo che consentono l'utilizzo della piattaforma PXI in una varietà di nuove applicazioni in diversi settori industriali tra cui elettronica di consumo, automotive, aerospazio e difesa, semiconduttori e telecomunicazioni.

Leggi tutto: Due nuovi controller PXI embedded a basso costo per applicazioni di test, misura e controllo

Matrice di commutazione PXII moduli ad alta densità NI PXI-2535 e PXI-2536 presentati da National Instruments sono delle matrici di commutazione che offrono fino a 544 punti di incrocio, la più alta densità di matrice disponibile in un singolo slot PXI in formato 3U.

Il modulo PXI-2535 è configurato come matrice 4x136 a un filo e il modulo PXI-2536 come matrice 8x68 a un filo. I moduli di commutazione sono realizzati con tecnologia FET (Field Effect Transistor), che offre nuovi vantaggi quali durata meccanica illimitata, connessioni simultanee senza limiti e velocità di commutazione pari a 50.000 punti al secondo.

Queste caratteristiche rendono gli switch una soluzione economica per instradare segnali DC di bassa potenza, per la validazione e il test di dispositivi prodotti in serie su vasta scala come i chip a semiconduttore. I nuovi moduli di commutazione si possono utilizzare con il software di gestione NI Switch Executive, che garantisce semplici configurazioni e riutilizzo del codice. 

Sorgente di misura per PXI National InstrumentsNational Instruments presenta un'unità di alimentazione e misura (SMU) per sistemi PXI.

Questi prodotti incrementano ulteriormente la piattaforma PXI per l’utilizzo in applicazioni DC di precisione, tipo test parametrici per semiconduttori e validazione di dispositivi elettronici e componenti. Si possono utilizzare i moduli in modo congiunto per caratterizzare con precisione i parametri di tensione e corrente su dispositivi ad elevato numero di pin, con il vantaggio di avere dimensioni e costi ridotti rispetto agli approcci tradizionali.

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