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- Scritto da Thomas Jäckle*
- Categoria: Misure Analogiche
Un qualunque wattmetro generalmente non ha problemi a misurare potenze dell’ordine dei 20 W e superiori.
Quando invece si vogliono eseguire misure accurate sui consumi energetici in stand-by, le potenze in gioco sono molto piccole e le difficoltà di misura aumentano notevolmente.
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- Scritto da Marco Rota
- Categoria: Misure Analogiche
La nostra introduzione ai sistemi di misura prosegue con la descrizione dei processi statici di misura, della relazione tra ingresso e uscita nel generico caso di sistema nonlineare e della procedura di calibrazione (statica) del trasduttore, di un sottosistema di misura e del sistema completo.
Leggi tutto: Introduzione ai sistemi di misura - Seconda parte
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- Scritto da Marco Rota
- Categoria: Misure Analogiche
Scegliere il sensore più adatto alla propria specifica applicazione è uno degli aspetti più importanti nella progettazione di un sistema di misura.
Per ogni tipologia di sensore o trasduttore è infatti presente sul mercato un'ampia varietà di modelli, ciascuno dei quali è stato progettato per ottimizzarne le prestazioni in determinati ambiti applicativi. Vediamo come intepretare correttamente le specifiche fornite dal costruttore per scegliere il miglior compromesso tra prezzo e prestazioni per assicurarsi che il sensore operi quanto più vicino possibile alle condizioni ideali di funzionamento.
Leggi tutto: Introduzione ai sistemi di misura - Prima parte
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- Scritto da National Instruments
- Categoria: Misure Analogiche
Uno dei frutti più significativi della collaborazione tecnologica tra National Instruments e Tektronix lo si può ammirare nei digitalizzatori PXIe-5185/86, dei moduli in formato PXI che offrono una larghezza di banda dino a 5 GHz con frequenze di campionamento di 12,5 GS/s.
Collaborando nella progettazione dei digitalizzatori PXIe-5185/86 di National Instruments, Tektronix ha:
- progettato un circuito di ingresso (front end) analogico completo e ad elevata larghezza di banda
- integrato il convertitore ADC a elevata frequenza di campionamento di Tektronix nell’architettura PXI
Leggi tutto: Il digitalizzatore con un cuore da oscilloscopio
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- Scritto da Andre Vander Stichelen*
- Categoria: Misure Analogiche
L'avvento dei primi oscilloscopi digitali, all'inizio degli anni Ottanta, diede inizio a una rivoluzione tecnologica e a un cambio di paradigma nel modo di analizzare e visualizzare i dati.
Nonostante la tecnologia digitale offrisse numerosi vantaggi nella post-elaborazione della forma d'onda e nell'archiviazione permanente dei dati, il prezzo da pagare era la bassa velocità nell'aggiornamento della visualizzazione. Col tempo gli oscilloscopi digitali sono estremamente migliorati, arrivando quasi a soppiantare quelli analogici.
L'architettura di uno strumento digitale determina la sua velocità di misurazione. Scopriamo gli effetti di un parametro fondamentale di un oscilloscopio digitale: il "tempo morto" o "tempo cieco" (blind time), e del suo impatto sull'abilità di eseguire il debug dei difetti di un segnale i progetti complessi.
Leggi tutto: Effetti del tempo morto nell'oscilloscopio digitale
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