Agilent Technologies ha annunciato la funzionalità di analizzatore vettoriale di reti non lineari (NVNA) per il suo analizzatore di reti a microonde PNA-X per l’analisi a radiofrequenza delle reti non lineari da 10 MHz a 26,5 GHz. Leggi tutto: Tecnologia innovativa per analizzare i comportamenti non lineari dei componenti attivi
National Instruments ha annunciato un nuovo analizzatore di segnali vettoriali RF, un generatore di segnali vettoriali RF e un telaio PXI Express a 18 slot in grado di realizzare misure RF flessibili molto veloci e facilmente velocizzabili.
I due nuovi strumenti modulari definiti via software, l’analizzatore vettoriale di segnali RF PXIe-5663 e il generatore di segnali vettoriale RF PXIe-5673, vengono utilizzati insieme al cestellio a 18 slot ad elevata ampiezza di banda PXIe-1075.
Leggi tutto: Analizzatore e generatore di segnali vettoriali PXI Express a 6,6 GHz
Keithley Instruments ha presentato il primo sistema di misura adatto ai sistemi di comunicazione in tecnologia MIMO (Multiple Input Multiple Output) in configurazione 8x8.
Il sistema è indicato per svolgere attività di ricerca e sviliuppo nel settore dei sistemi e tecnologie RF MIMO di nuova generazione.
Keithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).
Smart Tweezer è un piccolo multimetro e misuratore di resistenza, induttanza e capacità con pinzette integrate molto comodo per identificare piccoli componenti in formato SMD.