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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
Verigy ha presentato SmartRA (Scalable Memory Redundancy Technology), un’opzione d’analisi della ridondanza della memoria per il suo sistema di test V6000 WS.
SmartRA fornisce una soluzione scalabile, flessibile ed economica che consente ai produttori di soddisfare i crescenti requisiti di analisi delle celle ridontanti inserite nelle memorie DRAM.
Il sistema di collaudo automatico V6000 WS di Verigy, presentato nel mese di Novem
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Leggi tutto: Analisi della ridondanza per tester di memorie Verigy V6000 WS
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- Scritto da Stefano Cazzani
- Categoria: ATE
Verigy ha presentato il nuovo sistema di collaudo automatico V101 destinato alla selezione ed il test finale di wafer contenenti circuiti integrati a basso costo e microcontrollori.
Il tester nasce per rispondere alla domanda di sistemi a basso costo da parte dei produttori di semiconduttori che devono realizzare componenti molto economici e che non possono sopportare un'incidenza elevata dei costi di collaudo.
Indicativamente, una configurazione tipica a 512 canali I/O è disponibile ad un prezzo inferiore a 300.000 dollari.
Leggi tutto: Tester per produzione di microcontrollori Verigy V101
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- Scritto da Stefano Cazzani
- Categoria: ATE
La nuova Yield Learning Solution proposta da Verigy si propone di aiutare i produttori di semiconduttori ad accelerare il time-to-market e ad aumentare il rendimento dell'investimento in linee e apparecchiature di produzione.
Si tratta di una una soluzione completa di hardware e software che integra l'acquisizione in tempo reale sui tester con l'analisi statistica di guasti elettrici rilevati su chip complessi.
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
Le piattaforme di collaudo basate sul bus VXI mantengono una notevole popolarità nelle applicazioni legate al settore aerospaziale per la verifica dei sistemi avionici di bordo.
Con la presentazione di tre nuovi moduli per bus VXI che permettono di personalizzare i sistemi automatici di collaudo, VTI Instruments rafforza la sua offerta in questo campo ampliando la disponibilità di prodotti per la sua ben nota famiglia di prodotti della serie SMIP.
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- Scritto da Marco Caratti
- Categoria: ATE
Agilent Technologies ha presentato la versione digitale del suo sistema di collaudo in-circuit a basso costo Medalist i1000D, le cui funzionalità rappresentano una via di mezzo tra quelle dei tester in-circuit (ICT) di fascia alta e quelle dei più semplici analizzatori di difetti di produzione (MDA).
Leggi tutto: Tester in-circuit digitale Agilent Medalist i1000D
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