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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 16 Settembre 2009

Il tester in-circuit 3070 di Agilent è forse il prodotto più conosciuto tra tutti coloro che si occupano di collaudo automatico di schede elettroniche in produzione.

Il celeberrimo ATE nato vent'anni fa quanto ancora si chiamava HP 3070 è ora giunto alla sua quinta generazione ed è ufficialmente denominato he Medalist i3070 Serie 5.

Tra le novità presenti nella nuova serie, segnaliamo le schede ibride veloci da 12 MHz che secondo Agilent consentono di velocizzare l'esecuzione dei test dal 20 al 30% rispetto ai prodotti della generazione precedenti allo stesso prezzo.

Leggi tutto: Tester Agilent 3070 alla quinta generazione

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 08 Settembre 2009

Seica ha presentato il nuovo sistema di collaudo a sonde mobili per il collaudo di schede a circuito stampato prive di componenti modello S280.

Si tratta di sistema di collaudo orizzontale a sonde mobili progettato appositamente per collaudare qualsiasi tipo di PCB dai più semplici circuiti monofaccia, ai più complessi multistrato, inner-layers e ceramici.

Leggi tutto: Tester a sonde mobili per circuiti stampati Seica S280

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 08 Settembre 2009

National Instruments ha presentato la nuova versione NI VeriStand 2009 del suo ambiente software dedicato all'automazione dei sistemi di misura e collaudo e simulazione in tempo reale.

NI VeriStand 2009 permette di configurare un sistema real-time capace di sfruttare le più recenti architetture multicore dei microcessori ed è in grado di supportare interfacce di I/O di terze parti, inclusa una garnde varietà di interfacce I/O basate su FPGA, sistemi di acquisizione dati veloci e numerose altre periferiche.

Leggi tutto: NI VeriStand 2009

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Scritto da Marco Caratti

Categoria: ATE

Pubblicato: 31 Agosto 2009

Keithley Instruments ha annunciato un’estensione del proprio software ACS Basic Edition che ora è in grado di supportare una gamma più ampia di strumenti per l'alimentazione e misura di sistemi e componenti in corrente continua, spesso indicati anche come unità SMU (Source Measure Unit).

La possibilità di scegliere tra un maggior numero di strumenti permette di ampliare l’intervallo di valori limite di tensione e corrente necessari per il collaudo di celle solari, pannelli fotovoltaici e semiconduttori di potenza discreti.

Leggi tutto: Strumenti di alimentazione e misura in corrente continua

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Scritto da Simone Castelli

Categoria: ATE

Pubblicato: 22 Luglio 2009

Verigy  ha presentato SmartRA (Scalable Memory Redundancy Technology), un’opzione d’analisi della ridondanza della memoria per il suo sistema di test V6000 WS.

SmartRA fornisce una soluzione scalabile, flessibile ed economica che consente ai produttori di soddisfare i crescenti requisiti di analisi delle celle ridontanti inserite nelle memorie DRAM.

Il sistema di collaudo automatico V6000 WS di Verigy, presentato nel mese di Novem

Leggi tutto: Analisi della ridondanza per tester di memorie Verigy V6000 WS