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- Scritto da Simone Castelli
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La nuova versione (5.1) del software per il sistema di collaudo automatico in-circuit Spectrum di Teradyne includerà il software di produttività Test Expert di Siemens PLM Software.
Il software Test Expert for Spectrum v9.0 permette di interagire direttamente con l'ambiente di sviluppo dei programmi di collaudo per il tester in-circuit di Teradyne per velocizzare lo scambio di dati tra programma CAD elettronico, distinta base, punti e sonde di collaudo e file per la progettazione e gestione delle attrezzature (fixture).
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
VTI Instruments ha presentato i suoi nuovi moduli in formato LXI Classe A per la generazione di forme d'onda arbitrarie modelli EX1200-3604 e EX1200-3608, rispettivamente a 4 e 8 canali.
Le schede possono generare 4 o 8 forme d'onda indipendenti sfruttando i convertitori analogico/digitali (DAC) integrati a 16 bit a 500 ks/s.
Leggi tutto: Scheda LXI per generazione di forme d'onda arbitrarie
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- Scritto da Marco Caratti
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Keithley Instruments ha annunciato l’introduzione di una nuova opzione per il proprio sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS.
Il nuovo modello 4225-PMU I-V ad alta velocità è un modulo che mette a disposizione funzioni di misura di tensioni e corrente e generazione di forme d’onda in tensione ad altissima velocità per l’ambiente di collaudo 4200-SCS in modo da fornire la più ampia gamma di tensioni, correnti, ampiezza di impulsi e tempi di salita/discesa: ciò permette di ampliare considerevolmente le potenzialità del sistema per quel che riguarda caratterizzazione di materiali, dispositivi e processi.
Grazie al modello 4225-PMU, le operazioni di misura e ad alimentazione in tensione e corrente a quattro quadranti diventano semplici come una misura in corrente continua.
Leggi tutto: Unità di alimentazione e misura per caratterizzazione I-V ad altà velocità
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
Agilent Technologies ha presentato una soluzione per facilitare la programmazione di dispositivi dotati di memoria flash mediante il suo sistema di collaudo automatico in-circuit Medalist i3070 Serie 5.
Grazie alla disponibilità di schede supplementari progettate proprio per questo scopo, è possibile il firmware o modificare i componenti programmabili di una scheda durante la fase finale di produzione.
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- Scritto da Simone Castelli
- Categoria: ATE
In occasione della manifestazione productronica 2009 svoltasi a Monaco di Baviera, Rohde & Schwarz ha presentato un sistema di collaudo flessibile per il collaudo dei più avanzati ricevitori radar.
Il sistema di test può essere usato dagli utilizzatori o dei produttori di radar per simulare anche i più segnali multicanale con fase coerente.
E' possibile generare sequenze di impulsi modulati o semplici segnali modulati in modo molto flessibile e l'architettura del sistema di misura prevede la possibilità di espansione fino a dieci canali per simulare ambienti operativi del radar il più realistici possibile.
Leggi tutto: Segnali multicanale con fase coerente per il collaudo di ricevitori radar
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