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Controllo prober su wafer semiconduttori di potenzaKeithley Instruments ha annunciato presentato la versione 5.0 del suo pacchetto software ACS (Automated Characterization Suite) che è ora supporta una nuova serie di funzioni specifiche per facilitare la caratterizzazione e il collaudo parametrico di semiconduttori di potenza.

La nuova release 5.0 di ACS può sfruttare le risorse di tutte le più recenti unità di alimentazione e misura (SMU) di Keithley, come i modelli ad alta corrente 2651A e ad alta tensione 2657A per consentire il collaudo automatizzato a livello di wafer di semiconduttori ad alta potenza, come MOSFET, IGBT, BJT diodi e così via.

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Controllore boundary scan Agilent x1149Agilent Technologies ha presentato un nuovo analizzatore da banco per effettuare prove e collaudi tramite la metodologia boundary scan.

L'analizzatore boundary scan Agilent x1149 è uno strumento destinato ai laboratori di sviluppo e validazione che desiderano verificare il comportamento di componenti e schede, oppure di programmare componenti già montati sulla scheda, quali CPLD e FPGA, sfruttando le catene di scansione inserite nei circuiti stampati e nei circuiti integrati usando le stesse tecniche adottabili anche nelle linee di produzione.

Leggi tutto: Analizzatore boundary scan da banco

Switch RF per bus PXI di National InstrumentsNational Instruments ha aggiunto 20 matrici di commutazione (switch) di vario tipo per bus PXI e PXI Express utilizzabili per istradare i segnali nei sistemi di collaudo automatico modulari.

I nuovi modelli spaziano dalle matrici generiche per segnali a bassa frequenza fino ai multiplexer per segnali a radiofrequenza e si aggiungono alla già ampia gamma di matrici programmabili presenti nel catalogo dell'zienda americana.

Leggi tutto: 20 nuove matrici PXI da National Instruments

Generatore di segnali per la piattaforma FlexRIO E' un'azienda italiana ad aver sviluppato uno dei più avanzati moduli per la generazione di forme d'onda arbitrarie complesse ad alta velocità per il sistema modulare PXI FlexRIO di National Instruments.

I moduli AT-1120 e AT-1212 a 1 e 2 canali di Active Technologies consentono di sintetizzare segnali di stimolo con larghezza di banda fino a 800 MHz (1 canale) o 480 MHz (2 canali) con campionamento a 2 Gs/s o 1,25 Gs/s con risoluzione di ben 14 bit.

Leggi tutto: Modulo generatore di segnali complessi per FlexRIO

Sistema di collaudo automatico per semiconduttori Advantest T2000Advantest un veloce modulo per l'acquisizione di immagini utilizzabile per collaudare in modo economicamente vantaggioso i chip a semiconduttore con interfaccia D-PHY e M-PHY ad alta frequenza e bassa potenza.

Il nuovo modulo di acquisizione di immagini CMOS T2000 3Gbps è integrato all'interno del sistema di collaudo automatico T2000 ISS di Advantest, una piattaforma di test utilizzata per la verifica di un'ampia gamma di circuiti integrati SoC (System-on-Chip).

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