Chiede Roberto:
Qual è il valore di soglia corretto per misurare il tempo di salita?
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La tecnologia dei parametri X si è sviluppata rapidamente da quando fu presentata come tecnica pioneristica da Agilent applicata nel suo analizzatore di reti vettoriale non lineare PNA-X (NVNA) nel 2008 con la possibilità di integrarne i risultati all'interno del suo sistema di progettazione e simulazione Advanced Design System (ADS).
La definizione dei parametri X ha dato origine a un insieme completo di strumenti commerciali hardware e software basati sui che stanno già ridefinendo le modalità di lavoro dei tecnici impegnati nella caratterizzazione, modellazione e progetto di componenti e sistemi non lineari, in particolare nel campo degli amplificatori di potenza a radiofrequenza a microonde.
Chiede Anna:
Come posso migliorare l'accuratezza delle misura con l'oscilloscopio?
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Il modulo del vettore errore, o EVM (Error Vector Magnitude) è il parametro sintetico più utilizzato per valutare la qualità di un segnale modulato digitalmente.
La sua misura non è però delle più agevoli e richiede strumenti capaci di demodulare e rielaborare il segnale secondo il tipo di modulaizone utilizzata.
Ricordando i principi di base delle modulazioni digitali, si scopre come la definizione di EVM sia in realtà piuttosto semplice, mentre per sintetizzare in un solo numero la qualità di un segnale modulato digitalmente, gli strumenti di misura devono svolgere parecchie operazioni.
Decodificare i segnali che transitano sui bus CAN (Controller Area Network) e FlexRay oggi così diffusi nelle applicaziini automobilitiche e industraili non è un'operazione semplicissima con i normale oscilloscopi digitali, ma grazie a delle opportune opzioni software, molti deli strumenti di fascia medio alta possono essere traformati in veri e propri analizzatori di protocollo intelligenti che semplificano notevolmente le atttività di debug e collaudo quando su lavora con questi tipi di bus seriali.
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